寬溫DRAM模塊能在-40°C至85°C的范圍內(nèi)運(yùn)行，這些模塊設(shè)計(jì)用于解決車輛、工廠、網(wǎng)絡(luò)和室外信息亭以及監(jiān)控和安防市場(chǎng)等應(yīng)用程序所處的惡劣環(huán)境條件。

寬溫規(guī)范是基于DRAM集成電路（IC）的JEDEC標(biāo)準(zhǔn)，JEDEC標(biāo)準(zhǔn)21C概述了標(biāo)準(zhǔn)DRAM模塊的規(guī)范。這些概述了寬溫DRAM的基本技術(shù)指標(biāo)，以及測(cè)試程序和質(zhì)量控制，為工業(yè)級(jí)寬溫存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)奠定了基礎(chǔ)。

介紹 

無論大小和應(yīng)用程序如何，內(nèi)存是每臺(tái)計(jì)算機(jī)的重要組成部分，特別是邊緣設(shè)備，必須準(zhǔn)備好應(yīng)對(duì)環(huán)境造成的任何溫度和物理困難。

這一點(diǎn)變得越來越重要，因?yàn)槲覀儾粩喟l(fā)展和邊緣計(jì)算能力的增強(qiáng)，我們需要減少延遲并創(chuàng)建更高效的系統(tǒng)。

這意味著以前位于集中和穩(wěn)定位置的設(shè)備現(xiàn)在被放置在收集實(shí)際數(shù)據(jù)的位置，這些地點(diǎn)可以是工廠樓層、繁忙的道路交叉口、船上或飛機(jī)上的任何地方，而將這些應(yīng)用程序連接在一起的主要挑戰(zhàn)之一是大范圍的溫度變化。

雖然溫度變化可能是自然循環(huán)的一部分，但氣候變化是另一個(gè)可能影響未來和現(xiàn)有系統(tǒng)的因素，因?yàn)樗谠S多地方可能導(dǎo)致更不穩(wěn)定的天氣和不可預(yù)見的變化。

下文將解釋DRAM寬溫規(guī)范的背景，以及其應(yīng)用和測(cè)試程序。

背景 

規(guī)范的“工業(yè)級(jí)寬溫”通常是指溫度范圍?40°C到85°C。對(duì)于Agrade來說，這些數(shù)字是基于JEDEC規(guī)范的進(jìn)一步擴(kuò)展以滿足行業(yè)要求。

JEDEC

JEDEC是一個(gè)為微電子行業(yè)開發(fā)開放標(biāo)準(zhǔn)的組織。這些標(biāo)準(zhǔn)是通過制造商和供應(yīng)商之間的緊密合作創(chuàng)建的，并在全球范圍內(nèi)使用。對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)溫度DRAM，適用標(biāo)準(zhǔn)為21C。對(duì)于寬溫，有單獨(dú)的標(biāo)準(zhǔn)，概述不同DRAM類型的規(guī)范。這些標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了寬溫DRAM模塊的制造要求和測(cè)試。

挑戰(zhàn) 

物聯(lián)網(wǎng)和邊緣計(jì)算的趨勢(shì)都有助于在更惡劣的環(huán)境中使用更多的設(shè)備和計(jì)算能力。這包括極熱和極冷地區(qū)，以及易受氣候變化不利后果影響的地區(qū)。

例如，放置在室外的設(shè)備將經(jīng)歷一個(gè)連續(xù)的加熱和冷卻循環(huán)，隨著白天和夜晚的變化，而隨著季節(jié)的變化，其運(yùn)行周期將更長(zhǎng)。這些位置也很難進(jìn)入，這增加了維護(hù)時(shí)間和成本。

在這些區(qū)域運(yùn)行的設(shè)備必須使用能夠長(zhǎng)時(shí)間處理這些情況的內(nèi)存模塊，并且出勤率最低。

解決方案 

JEDEC標(biāo)準(zhǔn)

JEDEC標(biāo)準(zhǔn)分別規(guī)定了整個(gè)DRAM模塊和DRAM集成電路（IC）的溫度范圍，同時(shí)還規(guī)定，最大Tc不得超過為DRAM組件指定的值。Agrade嚴(yán)格遵循該準(zhǔn)則。

DRAM模塊的溫度范圍被指定為Ta，它是指環(huán)境溫度。JEDEC將此范圍設(shè)置為：

0°C≤Ta≤55°C

外殼溫度（TC），即操作期間IC的溫度，自然會(huì)更高，因?yàn)樗辽倥c環(huán)境溫度相同，操作期間產(chǎn)生的熱量在頂部。即，Tc等于Ta加上產(chǎn)生的熱量。JEDEC將此范圍設(shè)置為：

0°C≤Ta≤85°C

用于寬溫模塊的Agrade標(biāo)準(zhǔn)建立在JEDEC標(biāo)準(zhǔn)之上，并進(jìn)一步擴(kuò)展到負(fù)范圍：

-40°C≤Ta≤85°C

該范圍允許模塊在明顯超過JEDEC標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境中運(yùn)行，無論是環(huán)境溫度還是IC溫度（因?yàn)門C始終等于或高于TA）。

測(cè)試和質(zhì)量控制

為了驗(yàn)證寬溫能力，以及穩(wěn)固性和產(chǎn)品質(zhì)量，模塊將運(yùn)行一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試過程，如下所示。

（寬溫測(cè)試過程）

一旦順利通過了這一過程，模塊就可以在寬溫環(huán)境下使用。

寬溫規(guī)格對(duì)于確保您的設(shè)備在監(jiān)控、車輛、工廠、網(wǎng)絡(luò)和關(guān)鍵任務(wù)市場(chǎng)中的極端條件下生存至關(guān)重要。隨著計(jì)算能力的提高，對(duì)寬溫存儲(chǔ)器的需求也將增加，在這個(gè)領(lǐng)域，強(qiáng)大的物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備對(duì)于壽命和高效維護(hù)至關(guān)重要。

寬溫在為惡劣環(huán)境準(zhǔn)備內(nèi)存的更廣泛工具集中起著一定的作用。將其與抗硫化、涂層、側(cè)填充和熱撒布器相結(jié)合，操作員可以根據(jù)其應(yīng)用情況定制特定的解決方案。